描述：四探針電阻率測定儀
運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

四探針電阻率測定儀  型號： RTS-8 
  RTS-8型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 
儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。 
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。 
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 

四探針電阻率測定儀?技　術(shù)　指　標(biāo) ：  

電阻率：10^-5～10⁵ Ω.cm(可擴(kuò)展)；  
 方塊電阻：10^-4～10⁶ Ω/□(可擴(kuò)展)； 
 電導(dǎo)率：10^-5～10⁵ s/cm； 
 電阻：10^-5～10⁵ Ω；   

可測晶片直徑 140mmX150mm（配S-2A型測試臺）； 
200mmX200mm（配S-2B型測試臺）； 
400mmX500mm（配S-2C型測試臺）；  
恒流源 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)  
數(shù)字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 
分辨力：10μV； 
輸入阻抗：>1000MΩ； 
精度：±0.1% ； 
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動顯示；  
四探針探頭基本指標(biāo) 間距：1±0.01mm； 
針間緣電阻：≥1000MΩ；  
機(jī)械游移率：≤0.3%； 
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 
探針壓力：5～16 牛頓（總力）；  
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) （見探頭附帶的合格證）  
模擬電阻測量相對誤差 
（ 按JJG508-87進(jìn)行） 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字  
整機(jī)測量相對誤差 （用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±5%  
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤5%  
計算機(jī)通訊接口 并口  
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度：23±2℃； 
相對濕度：≤65%； 
無高頻干擾； 
無強(qiáng)光直射；  

產(chǎn)品名稱：氫氣發(fā)生器 氣體發(fā)生器 產(chǎn)品型號：1803

氫氣發(fā)生器 氣體發(fā)生器  型號：1803 
1、安 全:低壓產(chǎn)氣,壓保護(hù),無危險,保證安全。 
2、省 力:無運(yùn)輸鋼瓶之麻煩,省搬動鋼瓶之勞苦。輕按開關(guān)即可產(chǎn)氣,可間斷使用,可常年運(yùn)行 
3、自控系統(tǒng):需氣流量,自動跟蹤,無需調(diào)整,準(zhǔn)確可靠。 
4、經(jīng) 濟(jì):耗電少,耗材省,成本低,經(jīng)濟(jì)實(shí)惠。 
5、承 諾:整機(jī)保修一年,電解池保修三年。 

性能指標(biāo) 
氫氣純度:99.999%  
氫氣流量:0-300ml/min  
工作壓力:0--0.3Mpa  
消耗功率:150W  
電 壓:220V±10% 50 HZ 
外形尺寸: 40x18x38(cm) 
凈 重:9kg 
設(shè)有筒式防過液裝置,全自動操控系統(tǒng)。